展示資訊

後量子加密旁通道洩漏分析系統

技術簡介:
• 技術創新:PQ-SCALES 完整支援後量子密碼 FIPS 203、204、205 及傳統演算法,以模組化流程涵蓋量測、處理、洩漏分析與報告產出,實現高效率與標準化檢測,助產業建立量子時代的合規安全基礎。
• 競爭/智權優勢:具備多國專利,完整支援 PQC 標準,檢測成本僅為國際商用工具的十分之一。
• 重要事蹟:已成功應用於國內多家半導體廠商PQC晶片旁通道安全預檢測,符合國際標準測試。
產業應用性:
本系統可協助半導體與資安產業,快速檢測晶片中後量子加密與傳統演算法的安全性,提前發現潛在弱點。廠商能在產品上市前進行預檢測,降低取得國際認證的風險與時間成本。系統具備低成本與高效率特點,特別適合研發與驗證階段使用,並可拓展至金融、通訊及政府資安領域,成為量子時代不可或缺的防護工具。
產業應用性:
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財團法人資訊工業策進會

規劃研擬並推動政府各項資訊產業政策、致力資通訊前瞻研發、普及與深化資訊應用、培育資訊科技人才及參與國家資訊基礎建設等

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姓名:廖建維
電話:02-6607-8934
地址:台北市大安區和平東路二段106號11樓
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其他資訊

展館別:未來科技館 IC創新應用 FK11
所屬部會/單位:國家科學及技術委員會
主要應用領域:資訊與通訊
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專利資訊: EP4350546  US 12,120,214 B2  TWI808905  TWI845428