瑕疵影像擴增與閉環模型淬鍊系統
1.針對AOI設備業，運用GAI生成稀缺瑕疵影像，補足資料不均衡與樣本不足問題，降低模型因資料偏差而失準風險；
2.結合RAG導入產業知識，發展閉環模型淬鍊機制，透過檢測回饋、再訓練與資料再生成，強化非預期瑕疵辨識能力。
3.降低製造業資料蒐集、標註與模型調校成本，預期減少50%以上資料預蒐集與標註量，並於1000張真實稀缺瑕疵影像下，達成瑕疵檢出率>90%，提升模型檢出正確率≥90%，加速AOI應用擴散。
2.結合RAG導入產業知識，發展閉環模型淬鍊機制，透過檢測回饋、再訓練與資料再生成，強化非預期瑕疵辨識能力。
3.降低製造業資料蒐集、標註與模型調校成本，預期減少50%以上資料預蒐集與標註量，並於1000張真實稀缺瑕疵影像下，達成瑕疵檢出率>90%，提升模型檢出正確率≥90%，加速AOI應用擴散。
產業應用性:
無須進場即可降低前期蒐集與標註工時，縮短PoC準備期，並奠定後續場域導入基礎。未來可擴散於金屬加工、汽車零組件、PCB…等產業之智慧檢測應用。整合「資料導入－偽標記自動產生－分群更新－再訓練－推論」流程，僅標註約50%影像即達89%檢出率，前期標註工時減半、PoC準備期縮短30～40%，展現後續擴散至設備商與系統整合商的可行性。
財團法人工業技術研究院
工業技術研究院是國際級的應用研究機構，擁有六千五百位尖兵，以科技研發，帶動產業發展，創造經濟價值，增進社會福祉為任務。自1973年成立以來，率先投入積體電路的研發，並孕育新興科技產業；累積超過三萬件專利，並新創及育成，包括台積電、聯電、台灣光罩、晶元光電、盟立自動化、台生材等上市櫃公司，帶動一波波產業發展。
