技術簡介:
本研究之太赫茲單像素壓縮感測成像系統，克服太赫茲波元件昂貴成本與高解析度影像挑戰。利用脈衝式光電導太赫茲天線與空間光調變技術，建構寬頻高訊雜比之單像素壓縮感測系統；三維張量壓縮感測重建演算法可大幅減少影像重建時間，開發成像晶片系統可實現即時半導體折射率影像分析。可用於材料識別與電路缺陷檢測應用。
產業應用性:
"本技術「太赫茲單像素成像加速晶片系統」整合 FPGA 與 SoC 設計，解決現有太赫茲成像系統速度慢與功能受限瓶頸，深具產業價值：

半導體與電子封裝： 非破壞性分析缺陷與材料特性。

生醫診斷： 有助於早期病變診斷。

食品安全： 提升檢測效率與準確度。

文物鑑定： 協助非破壞性分析。"