本專利應用人工智慧機器學習，針對光譜量測設備(如:拉曼光譜或近紅外線光譜)產出的圖譜數據進行全光譜辨識，以作物農藥殘留檢測為例，訓練流程先提供無農藥殘留或殘留量低於容許限量的作物圖譜，讓AI系統以單層級支持向量機(One class SVM)模式進行學習，產生一組訓練模型，如此可針對真實作物樣品的光譜量測圖譜，計算出離群程度，並產出一數值以量化未知樣品與合格樣品的差異性，此數值反映樣品中農藥殘留量的風險高低。
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技術成熟度：試量產
展示目的：可交易技術、研發成果展示
流通方式：自行洽談
敬請期待!
