原子針尖斷層影像儀技術開發及應用
原子針尖斷層影像儀是一種嶄新的分析技術，能夠解析材料或元件微觀區域的三維原子分佈，並且在空間上達到次奈米等級解析度，在成份上達到接近20 ppm偵測極限，這樣獨特的綜合分析能力使其有別於成份分析受限的穿透式電子顯微鏡與空間解析受限的二次離子質譜，使其成為當代微縮化、異質化、且立體化半導體元件研發所需之關鍵分析技術。
學研單位
姓名：顏鴻威
電話：
地址：10617 臺北市羅斯福路四段一號
展館別：未來科技館 2023半導體 FB27
所屬代表參展單位：國家科學及技術委員會
主要應用領域：材料化工與奈米、電子與光電
三維原子級電子斷層掃描技術在前瞻半導體元件的應用
捕捉結構色彩技術於仿生可撓光子晶體材料之高效率開發與應用
以印刷式自發光量子點元件與無擋牆面板技術製備下世代自發光量子點軟式透明顯示器
化合物半導體及先進封裝技術開發與系統整合應用
技術成熟度：實驗室階段
展示目的：研發成果展示
流通方式：自行洽談
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