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高能效最佳化問題決策:基於類神經網路架構之記憶體內退火單元於路徑排程及基因組裝之應用

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高能效最佳化問題決策:基於類神經網路架構之記憶體內退火單元於路徑排程及基因組裝之應用

本技術結合記憶體元件、記憶體內運算與模擬退火演算法,實現全球首顆記憶體內退火晶片,並驗證於10城市旅行銷售員問題和300片段基因組裝應用。未來有望使運算速度快千倍,可用於晶片設計、生醫、物流排程等領域,成為最佳化決策的利器。此研究發表於IEDM 2021,並榮獲2024美光半導體創新應用競賽第一名。

聯絡人

  • 姓名:侯拓宏

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其他資訊

  • 展館別:未來科技館 電子&光電 FF03

  • 所屬代表參展單位:國家科學及技術委員會

  • 主要應用領域:電子與光電

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  • 技術成熟度:雛型

  • 展示目的:研發成果展示

  • 流通方式:自行洽談

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