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高遷移率材料、製程、多層疊元件及熱電路模型;鐵電鉿基氧化物之負電容特性研究及相關應用;先進原子層材料與模組技術

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高遷移率材料、製程、多層疊元件及熱電路模型;鐵電鉿基氧化物之負電容特性研究及相關應用;先進原子層材料與模組技術

●技術簡介:
本計畫著重開發滿足智慧終端需求之下世代技術節點的材料、製程、元件及電路熱模擬之關鍵技術,製作具備鍺通道之多層疊環繞式電晶體並開發模組技術、三維負電容元件及相關模組技術、開發適用於類神經網路運算之鐵電材質憶阻器及進行嵌入式記憶體與元件之共模擬、低磊晶缺陷之鍺於矽基板上、研究磊晶成長速率。
●技術之科學突破性:
本計畫成功製備了世界首顆高效能七層堆疊鍺矽奈米線,與國際標竿相比,其驅動電流為鍺/鍺矽三維電晶體之世界紀錄。八層堆疊鍺矽奈米片之堆疊層數更超過法國半導體研究機構CEA-Leti發表於2020 年VLSI 的七層堆疊矽奈米片。
●技術之產業應用性:
本計畫團隊將高層數堆疊高遷移率通道之研究成果,對比台積電的2 奈米技術節點(三層通道)與 Intel的20A技術節點(四層通道),八層/七層通道則可用於1.4奈米(14A)技術節點。團隊持續致力於更高層數通道堆疊之GAAFET,追求更高的電晶體驅動電流,提供半導體晶片更好的效能,持續推進技術節點。

聯絡人

  • 姓名:劉致為

  • 電話:02-33663700分機515

  • 地址:

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其他資訊

  • 展館別:未來科技館 半導體專區

  • 所屬代表參展單位:國科會

  • 主要應用領域:電子與光電

位置 更多資訊

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  • 技術成熟度:實驗室階段

  • 展示目的:研發成果展示

  • 流通方式:技術授權/合作

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