隨著半導體製程精度的推進，探針卡的技術不斷改進，本技術將有助於推廣於國內調針機市場，加速整體智慧化升級來提升效率及精度，展示如何解決更高密度的晶片和更複雜的測試需求。逐步促使半導體周邊設備智慧化轉型升級，後續可開發高精度自動調針系統結合智慧探針自動對位技術，以期能達成由人機協作升級為全自動智慧調針，大幅加速系統調針時間，降低對熟練檢測人員之依賴，增加設備效能與競爭力。
導入快速自動對位技術與Auto Focus技術並建置高精度校正顯微影像座標系，優化座標數據與定位精度，並串接探針資料庫建立探針智慧辨識技術，即時辨識探針種類，提高探針定位精度。輔助現有人力進行探針卡自動化全範圍檢測，並根據塑性變形及彈性回復預測補償量，產生異位探針調針方向偏移量之建議值，並於人機介面上顯示探針異位分布圖，藉由影像處理分析與運動回饋控制，達成人機協作對位機制，以降低探針調針時間。期望降低檢驗人員工作負荷，減少製程中對操作人員經驗及視力的依賴，並提高系統可靠性。