半導體物質檢測之太赫茲單像素影像加速晶片系統

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半導體物質檢測之太赫茲單像素影像加速晶片系統

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技術簡介:
本研究之太赫茲單像素壓縮感測成像系統，克服太赫茲波元件昂貴成本與高解析度影像挑戰。利用脈衝式光電導太赫茲天線與空間光調變技術，建構寬頻高訊雜比之單像素壓縮感測系統；三維張量壓縮感測重建演算法可大幅減少影像重建時間，開發成像晶片系統可實現即時半導體折射率影像分析。可用於材料識別與電路缺陷檢測應用。
產業應用性:
"本技術「太赫茲單像素成像加速晶片系統」整合 FPGA 與 SoC 設計，解決現有太赫茲成像系統速度慢與功能受限瓶頸，深具產業價值：

半導體與電子封裝：非破壞性分析缺陷與材料特性。

生醫診斷：有助於早期病變診斷。

食品安全：提升檢測效率與準確度。

文物鑑定：協助非破壞性分析。"

國立清華大學

國立清華大學（National Tsing Hua University, NTHU）成立於1911年，位於新竹市，是台灣頂尖的研究型大學之一。學校提供多元的學科領域，包括工程、科學、管理、人文等，致力於創新研究與國際化發展。

聯絡人

姓名：林美吟
電話：03-571-5131 #34113
地址：新竹市東區光復路二段101號

其他資訊

展館別：未來科技館半導體&光電與通訊科技 FH13
所屬代表參展單位：國家科學及技術委員會
主要應用領域：電子與光電

位置更多資訊

專利

US12181757B2
- 專利名稱
- 申請國家
- 專利類別
- 專利權人
- 申請號
- 公告號
- 專利名稱
  
  Compressed sensing imaging method and compressed sensing imaging system
- 申請國家
  
  美國
- 專利類別
  
  發明(TW,CN)/特許(JP)/Utility Invention(US)
- 專利權人
  
  國立清華大學
- 申請號
  
  US17751697
- 公告號
  
  US12181757B2

半導體物質檢測之太赫茲單像素影像加速晶片系統

國立清華大學

聯絡人

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專利

專利名稱

Compressed sensing imaging method and compressed sensing imaging system

申請國家

美國

專利類別

發明(TW,CN)/特許(JP)/Utility Invention(US)

專利權人

國立清華大學

申請號

US17751697

公告號

US12181757B2

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