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高功率元件測試系統

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高功率元件測試系統

技術簡介:
單顆裸晶測試系統透過B1505A對下針位置、重複下針次數、刮痕長度與摩擦靜電對量測結果的影響進行比對,大幅優化量測的精準度與效率。將元件進行短路測試,探討短路造成之影響,再使用LTSPICE及TCAD模擬出短路測試波形,分析溫度對元件失效之物理機制,而後針對失效元件以光學及SEM方法進行分析。
產業應用性:
高功率元件測試系統經由大量的量測,可以顯示在裸晶上不同位置的電性,進而得出在裸晶上最佳的下針位置。LTSPICE模型可以預測在短路下的電流電壓,並且得出元件內部的溫度,透過模擬來找出元件的極限值。若導入業界使用,可提升裸晶量測之精準度與效率與事先知道封裝元件在實際應用時的情況,從而避免元件損壞。

國立臺灣大學

臺大現有16個學院(含重點科技研究學院、創新設計學院、共同教育中心、國際學院、進修推廣學院),58個學系、146個研究所、34個碩博士學位學程,橫跨自然科學與人文社會藝術領域,每學期所開課程數近8,000 班,無論所擁有的學術領域或開設之課程數,在全國大學中均無出其右者,學生就讀於臺大,無疑是進入最為豐富的知識寶庫,可獲得最多元而優質的學習機會。

聯絡人

  • 姓名:葉峻維

  • 電話:02-3366-5733

  • 地址:10617 臺北市羅斯福路四段一號

Email

其他資訊

  • 展館別:未來科技館 AI應用與產學合作專區 FJ11

  • 所屬代表參展單位:國家科學及技術委員會

  • 主要應用領域:資訊與通訊

位置 更多資訊

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  • 技術成熟度:其他

  • 展示目的:商機推廣

  • 流通方式:自行洽談

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