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Electric noise characterization for semiconductor devices

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Electric noise characterization for semiconductor devices

We provide solutions for electric noise for nanoelectronic devices such as MOSFETs.
(Product 1) Entrope®️ High-Frequency Noise Probe: for a broadband on-wafer noise measurement
(Product 2) Cryogenic Entrope®️: Variable temperature broadband noise measurement system from room temperature down to 4 Kelvin

聯絡人

  • 姓名:OHMORI Kenji

  • 電話:+81-90-5426-3927

  • 地址:

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其他資訊

  • 展館別:創新領航館 AIoT智慧應用

  • 所屬代表參展單位:經濟部產業發展署

  • 主要應用領域:電子與光電

位置 更多資訊

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  • 技術成熟度:試量產

  • 展示目的:可交易技術、商機推廣

  • 流通方式:自行洽談

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