We provide solutions for electric noise for nanoelectronic devices such as MOSFETs.
(Product 1) Entrope®️ High-Frequency Noise Probe: for a broadband on-wafer noise measurement
(Product 2) Cryogenic Entrope®️: Variable temperature broadband noise measurement system from room temperature down to 4 Kelvin
Characterization of electronic properties of semiconductor devices, Noise measurement
技術成熟度：試量產
展示目的：可交易技術、商機推廣
流通方式：自行洽談
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