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近場測試技術系統於電源整合與訊號整合分析應用

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近場測試技術系統於電源整合與訊號整合分析應用

本技術特點主要以近場量測技術為基礎,結合系統電路接觸式量測技術(如:接頭或探針進行之散射參數或時域量測)與非接觸量測技術(如:磁場或電場近場量測),配合模擬及系統整合設計技術流程,發展電磁干擾耐受、靜電散逸路徑以及電源與訊號整合測試驗證等技術,提供系統電路高品質訊號整合與電源系統整合解決方案。整合寬頻阻抗匹配雙面點針系統於近場系統中,導入時域/頻域訊號源及接收顯示系統,建立與開發具動態顯示系統電路靜電消散狀態之「系統電路靜電消散路徑檢測技術」、可顯示系統電路電源供應系統面共振模態之「同步切換雜訊檢測技術」及利用訊號干擾非接觸式耦合方式進行之「系統電路PI/SI最佳化設計」,技術領先業界。研究發展對未來發展與產業應用帶來了廣大效益:
1.成果效益擴散至整個半導體產業供應鏈,有實質產學合作關係,運用發展之技術協助解決問題。
2.協助政府單位法規制訂之研究及財團法人關鍵技術發展與規劃。
3.深化技術合作關係,成為研發關鍵合作夥伴,協助建立量測技術與分析能量,持續挹注設備經費持續技術發展。

聯絡人

  • 姓名:吳松茂

  • 電話:07-5919436

  • 地址:高雄市楠梓區高雄大學路700號

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其他資訊

  • 展館別:未來科技館

  • 所屬代表參展單位:國科會

  • 主要應用領域:電子與光電

位置 更多資訊

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  • 技術成熟度:試量產

  • 展示目的:可交易技術、商機推廣、研發成果展示

  • 流通方式:專利授權/讓與、技術授權/合作、自行洽談

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