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突破邏輯密度極限的單晶片三維異質元件整合與創新材料技術:實現高密度AI運算晶片的關鍵技術平台

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突破邏輯密度極限的單晶片三維異質元件整合與創新材料技術:實現高密度AI運算晶片的關鍵技術平台

技術簡介:
以100 奈米成熟製程取代16奈米以下先進製程,成功整合鍺基p-FET與氧化銦基n-FET之奈米級厚度通道,實現2M NAND/mm²技術,並朝向20M NAND/mm² (80M Trs/mm²)目標邁進。此外,首創高性能InWSnO電晶體,具極高開關比與低SS值,展現應用於AI與HPC晶片潛力。
產業應用性:
以成熟製程取代先進製程,實現三維異質元件整合,達成領先全球之電晶體密集度水準(8M Trs/mm²邏輯電路),可應用於AI與高效能運算晶片製作潛力。已獲美國與台灣發明專利,具高度商品化價值。本團隊亦首創氧化銦鎢錫薄膜電晶體技術,兼具優異電性與製程相容性,為推進先進3D-IC技術之核心基礎。

國立陽明交通大學

國立陽明交通大學(NYCU)於2021年由國立陽明大學與國立交通大學合併而成,位於新竹市。學校擁有強大的科技、工程、醫學及社會科學領域,並在資訊技術、生物醫學、人工智慧等領域具有卓越的研究實力。國立陽明交通大學致力於跨領域合作與創新,並培養具全球視野的專業人才,積極應對社會挑戰與推動科技發展,為學術界和產業界作出重要貢獻。

聯絡人

  • 姓名:劉柏村

  • 電話:03-571-2121 #52994

  • 地址:新竹市東區博愛街75號

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其他資訊

  • 展館別:未來科技館 半導體&光電與通訊科技 FH10

  • 所屬代表參展單位:國家科學及技術委員會

  • 主要應用領域:電子與光電

位置 更多資訊

專利

  • TWI805116B

    • 專利名稱
    • 申請國家
    • 專利類別
    • 專利權人
    • 申請號
    • 公告號
    • 專利名稱

      垂直堆疊型互補式薄膜電晶體

    • 申請國家

      台灣/中華民國

    • 專利類別

      發明(TW,CN)/特許(JP)/Utility Invention(US)

    • 專利權人

      國立陽明交通大學

    • 申請號

      TW110145689

    • 公告號

      TWI805116B

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  • 技術成熟度:其他

  • 展示目的:研發成果展示

  • 流通方式:自行洽談

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