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利用金屬奈米結構與對比式表面電漿影像技術進行藥物毒性定量分析

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利用金屬奈米結構與對比式表面電漿影像技術進行藥物毒性定量分析

技術簡介:
藥物毒性半數抑制濃度為量化藥物效力的重要藥理參數。我們發展一種不需要標定的對比式表面電漿共振成像技術評估藥物對細胞產生的毒性。與傳統的細胞增殖數量檢測套組與細胞活性螢光染色法相比,成像檢測平台所得到的數值結果高度一致。可準確用來量測黏附細胞型細胞之IC₅₀,且達到高通量及無須標記的特性。
產業應用性:
一種結合專利奈米電漿子晶片與影像對比技術的新型表面電漿共振檢測平台,具備免標定、高靈敏度、低成本優勢。此技術可廣泛應用於生醫領域,特別是藥物開發中常用的濃度測定,提供高通量且精確的藥物效力評估,對藥物篩選具高度市場價值。此平台也適用於進行分子交互作用分析、污染物監測與食品安全檢測等。

中央研究院

中央研究院成立於1928年,為我國國家級研究機關。法定任務為執行「人文及科學研究」、「指導、聯絡及獎勵學術研究」以及「培養高級學術研究人才」。   本院分為數理科學、生命科學、人文及社會科學三大學組,共有33個研究所及研究中心,執行基礎及任務導向型研究。包含超過八千名研究人員、研究技術人員、助理、及行政人員,是國際間少見兼顧自然科學及人文與社會科學均衡發展的研究型機構。

聯絡人

  • 姓名:魏培坤

  • 電話:02-2787-3146

  • 地址:115201台北市研究院路二段128號

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其他資訊

  • 展館別:未來科技館 生技新藥與醫材 FM13

  • 所屬代表參展單位:中央研究院

  • 主要應用領域:生技與醫療

位置 更多資訊

專利

  • US10379045B2

    • 專利名稱
    • 申請國家
    • 專利類別
    • 專利權人
    • 申請號
    • 公告號
    • 專利名稱

      Label-free sensing chip and application thereof

    • 申請國家

      美國

    • 專利類別

      發明(TW,CN)/特許(JP)/Utility Invention(US)

    • 專利權人

      中央研究院

    • 申請號

      US14476191

    • 公告號

      US10379045B2

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  • 技術成熟度:其他

  • 展示目的:研發成果展示

  • 流通方式:自行洽談

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